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半導体デバイスの不良・故障解析技術 ( 信頼性技術叢書 ) 貸出可

二川 清／編著 -- 日科技連出版社 -- 2019.12 --

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所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
本館(和歌山市) 閲覧室 /549.8/ﾆｶ/ 323737486 一般 在庫

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タイトル 半導体デバイスの不良・故障解析技術 
叢書名 信頼性技術叢書
言語 日本語
著者 二川 清 ／編著, 上田 修 ／著, 山本 秀和 ／著  
出版者 日科技連出版社
出版年 2019.12
ページ数 8,218p
大きさ 21cm
一般件名 半導体 , 信頼性(工学)
内容紹介 半導体デバイスの不良と故障について、基礎から最新情報まで幅広いレベルの内容を解説。それぞれの分野の側面を気軽に知ることができるコラム、「初級信頼性技術者」資格認定試験に出るような5択の演習問題も掲載。
ISBN 4-8171-9685-9
ISBN13桁 978-4-8171-9685-9

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