中村 聡史/著 -- 技術評論社 -- 2015.2 -- 007.6

所蔵

所蔵は 1 件です。現在の予約件数は 0 件です。

所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
本館(和歌山市) 閲覧室 /007.6/ナカ/ 323289157 一般 貸出可 在庫

資料詳細

タイトル 失敗から学ぶユーザインタフェース 
副書名 世界はBADUIであふれている
言語 日本語
著者 中村 聡史 /著  
出版者 技術評論社
出版年 2015.2
ページ数 8,247p
大きさ 23cm
一般件名 ユーザーインターフェース(コンピュータ)
NDC分類(9版) 007.6
内容紹介 世の中に溢れるBADUI(バッドユーアイ)。200超のBADUIを、写真と状況説明、ユーザの失敗理由とともに紹介。「使いにくいことの原因は何なのか」を考察する中で、ユーザインターフェースの知識を得られる書。
ISBN 4-7741-7064-0
ISBN13桁 978-4-7741-7064-0
著者紹介 1976年長崎県生まれ。大阪大学工学研究科博士後期課程修了。博士(工学)。明治大学総合数理学部准教授。専門はユーザインターフェース。