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LSI故障解析技術
貸出可
二川 清/著 -- 日科技連出版社 -- 2011.9 -- 549.7
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帯出区分
状態
本館(和歌山市)
閲覧室
/549.7/ニカ/
321762239
一般
貸出可
在庫
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資料詳細
タイトル
LSI故障解析技術
言語
日本語
著者
二川 清
/著
出版者
日科技連出版社
出版年
2011.9
ページ数
10,194p
大きさ
21cm
一般件名
集積回路
NDC分類(9版)
549.7
内容紹介
LSIの故障解析技術に焦点を絞り、現在どのような技術が利用され、研究開発されているかについて、微細化、マージナル不良、タイミング不良などに対応するものに重点を置いて解説する。2007年以降の技術の変化に対応。
ISBN
4-8171-9414-5
ISBN13桁
978-4-8171-9414-5
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