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LSIの信頼性 ( 信頼性技術叢書 ) 貸出可

二川 清／編著 -- 日科技連出版社 -- 2010.10 -- 549.7

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所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
本館(和歌山市) 書庫H /549.7/ﾆｶ/ 321745135 一般 貸出可 在庫

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タイトル LSIの信頼性 
叢書名 信頼性技術叢書
言語 日本語
著者 二川 清 ／編著, 塩野 登 ／著, 横川 慎二 ／著, 福田 保裕 ／著, 三井 泰裕 ／著  
出版者 日科技連出版社
出版年 2010.10
ページ数 8,183p
大きさ 21cm
一般件名 集積回路 , 信頼性(工学)
NDC分類(9版) 549.7
内容紹介 家電、携帯、パソコン、自動車など、生活のあらゆるところで、広く深く使われているLSIの普及を支える信頼性技術の主要な要素技術や手法に焦点をあてて解説。基礎から実際的な応用までを幅広く紹介する。
ISBN 4-8171-9363-6
ISBN13桁 978-4-8171-9363-6
著者紹介 1949年大阪市生まれ。大阪大学大学院基礎工学研究科修士課程修了。同大学大学院情報科学研究科特任教授、金沢工業大学大学院工学研究科客員教授、芝浦工業大学工学部非常勤講師。

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