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デバイス・部品の信頼性試験 ( 信頼性110番シリーズ 2 ) 貸出可

高久 清／[ほか]著 -- 日科技連出版社 -- 1992.9 --

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所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
本館(和歌山市) 書庫H /549.8/ﾃﾞﾊﾞ/ 314065376 一般 在庫

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タイトル デバイス・部品の信頼性試験 
叢書名 信頼性110番シリーズ
著者 高久 清 ／[ほか]著  
出版者 日科技連出版社
出版年 1992.9
ページ数 164p
大きさ 21cm
一般件名 半導体 , 集積回路 , 信頼性(工学)
内容紹介 電子デバイス・部品の信頼性試験の業務に初めて携わる人のために、信頼性試験とはなにか、信頼性を保証するためにはどのような試験を実施したらよいのか、またその時の注意点は、など基礎的な質問から少し専門的なものまで、Q&A方式で答えるノウハウ集。
ISBN 4-8171-3028-8

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